巻頭言
「Wandering on Surface」Ding Zejun・・・・158
技術報告
高エネルギー分解能アナライザ・モノクロメータとしてのウィーンフィルタ津野 勝重・・・・159
解説
表面化学分析における国際標準データフォーマットの概要とその利用吉原 一紘・・・・170
結晶構造データベースと結晶学共通データ・フォーマットCIFについて １．結晶構造データベース
松下 能孝・・・・177
Standardization of Data Transfer Format for Scanning Probe Microscopy
Daisuke Fujita・・・・188
掲示板
PSA-12でのWG活動の報告永富 隆清・・・・195
2012年度実用表面分析講演会におけるToF-SIMS WG活動
ToF-SIMSワーキンググループ・・・・196
2012年度実用表面分析講演会XPSワーキンググループ議事録 (ppt)
XPSワーキンググループ・・・・197
2012年度実用表面分析講演会Depth Profilingワーキンググループ議事録
Depth Profilingワーキンググループ・・・・199
2012年度実用表面分析講演会Depth Profiling/ XPS WG合同討議議事録
Depth Profiling/XPSワーキンググループ・・・・200
第50回表面分析研究会幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・203
投稿規程
・・・・・・・・・・・・205
投稿票
・・・・・・・・・・・・209
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・211
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・214
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・216
編集後記
・・・・・・・・・・・・218
2012年度実用表面分析講演会 講演資料
分子量の異なる高分子の表面計測データの多変量解析による評価韓峰，梶原靖子，青柳里果・・・・A-81
植物組織のTOF-SIMS データへの多変量解析の応用
小谷紀子，青柳里果・・・・A-82
化学振動反応への電磁気の影響と界面での現象の解明
和田智尋，大崎敬亮，青柳里果・・・・A-83
2 種類の高分子混合試料の近接場赤外吸収スペクトルとTOF-SIMS スペクトルの多変量解析による評価
下本悟，梶原靖子，青柳里果・・・・A-84
EDX 分析及び多変量解析手法による微小粒子の種類の分類及び同定
松村純宏・・・・A-85
帯電水滴エッチング法によるCuO のXPS 深さ方向分析
境悠治・・・・A-86
相対感度係数を用いたスパッタ深さプロファイルの定量解析のためのソフトウェア開発
永富隆清，DP-WG・・・・A-87
DP-WG 活動報告（「匠の技」への挑戦の経過報告
石津範子，永富隆清，DP-WG・・・・A-88
AlGaAs/GaAs ヘテロ接合およびGaAs pn 接合界面におけるSIMS デプスプロファイルのMRI モデル解析
大友晋哉・・・・A-89
四重極型SIMS を用いたAlGaAs およびAlGaN 中のC,O,Si 分析における2 次イオン種と質量干渉
大友晋哉・・・・A-90
TOF-SIMS WG 活動報告 TOF-SIMS の質量軸較正法に関するラウンドロビンテスト10(RRT-10)報告
伊藤博人，青柳里果，小谷紀子，下本悟，TOF-SIMS WG・・・・A-91
ToF-SIMS における二次イオン種と質量確度の関係
小林大介，大友晋哉，飯田真一，三原一郎，伊藤博人・・・・A-92
FIB-TOF-SIMS によるリチウム電池正極粒子表面の劣化物質の評価
大西美和，松岡修，野木栄信，坂本哲夫・・・・A-93
高分解能TOF-SIMS による大気中微粒子のクラスター分析と粒別構造解析
間山 憲仁，三浦 祐哉，坂本哲夫，藤井 正明・・・・A-94
昇温脱離質量分析法を用いた各種食品用ラップフィルムの脱離挙動比較
塩沢一成・・・・A-95
電気計測SPM による半導体微小領域のキャリア濃度定量化と国際標準化
藤田高弥，加連明也，井藤浩志，藤田大介・・・・A-96
PEG・PMA 混合試料のTOF-SIMS データの多変量解析
梶原靖子，青柳里果・・・・A-97
ナノ微細構造物の構造および磁気特性評価
有明順・・・・A-100
表面電子分光法による定量分析. 感度係数法の現状と課題
田沼繁夫・・・・A-102
DP-WG活動と関連ソフトウェアの開発
永富隆清，DP-WG・・・・A-103