巻頭言
装置／過去の自分より優れていたい!!中村 誠・・・・ 1
解説
レーザー脱離イオン化イメージ質量分析法による表面分析の可能性佐藤 貴弥，藤井 麻樹子，松尾 二郎・・・・ 2
速報
FIB-TOF-SIMSによる有機／無機材料の断面観察飯田 真一・・・・ 11
技術報告
めっき腐食生成物のXAFSによる評価杉山 信之, 吉田 陽子, 杉本 貴紀, 中尾 俊章, 小林 弘明・・・・ 19
談話室
16th European Conference on Applications of Surface and Interface Analysis （ECASIA '15）の参加報告島 政英・・・・ 30
掲示板
JSA誌への投稿のお願いとチューター制度の導入について眞田 則明・・・・ 34
実用表面分析研究会第46回研究会におけるDepth Profiling WG議事録
Depth Profilingワーキンググループ・・・・ 36
実用表面分析研究会第46回研究会におけるXPS-WG スペクトルデータベースグループ議事録
XPSワーキンググループ・・・・ 38
実用表面分析研究会第46回研究会におけるXPS-WG 定量グループ議事録
XPSワーキンググループ・・・・ 40
実用表面分析研究会第46回研究会におけるToF-SIMS WG活動
ToF-SIMSワーキンググループ・・・・ 41
第59回 幹事会議事録
・・・・ 43
2016年度 表面分析研究会組織表
・・・・ 47
講演委員会運営規則
・・・・ 48
編集委員会運営規則
・・・・ 50
表面分析士認定規定
・・・・ 51
表面分析士申請書
・・・・ 53
投稿規程
・・・・ 56
投稿票
・・・・ 60
Copyright Transfer Agreement
・・・・ 62
JSA定期購読申込用紙
・・・・ 65
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・ 67
表面分析実用化セミナー '16 ご案内
・・・・ 69
編集後記
・・・・ 71