巻頭言
表面分析研究会の魅力大友 晋哉・・・・ 137
解説
Common Data Processing System Version 12の紹介吉原 一紘・・・・ 138
研究論文
電子線マイクロアナライザーによるMg-Ge合金の定量−Mg Kαに対するGeの質量吸収 係数の検討−西尾 満章，吉川 英樹, 田沼 繁夫, 今井 基晴, 磯田 幸宏・・・・ 149
技術報告
グラフェン導電層を用いた絶縁物のオージェ電子分光分析鴨井 督・・・・ 160
X線光電子分光法によるペロブスカイト型酸化物La1-xSrxMnO3の導電性評価
菱田 智子，大林 和重，齋藤 智彦・・・・167
談話室
『PSA-16：第7回実用表面分析に関する国際シンポジウム及び第9回表面分析に関する日韓シンポジウム』国際会議開催報告永富 隆清・・・・176
『日常的な分析業務におけるJIS 並びにISO 規格の利用 − 表面分析実用化セミナー '16 −』での質疑応答の紹介
永富 隆清・・・・181
掲示板
第3回SASJ若手研究会議事録20代，30代を中心としたSASJ若手研究会・・・・186
幹事会議事録
・・・・・・・・・・・・190
投稿規程
・・・・・・・・・・・・193
投稿票
・・・・・・・・・・・・197
Copyright Transfer Agreement
・・・・・・・・・・・・199
JSA定期購読申込用紙
・・・・・・・・・・・・202
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・・・・・・・・・204
編集後記
・・・・・・・・・・・・206
表面分析研究会 第48回研究会 講演資料
走査電子顕微鏡の発展揚村 寿英・・・・A-85
PSA-16国際会議報告
永富 隆清・・・・A-88
Analysis of the shape of cross sections developed under shave-off condition Sputtering
So Hee Kang・・・・A-94
材料情報の多面的利用
吉武 道子・・・・A-95
電子分光シミュレーターSESSA の使い方とCOMPRO との連携
三浦 薫 ・・・・A-97
不ぞろいなデータを集めたデータベースが世界標準になるまで −マススペクトルのデータベース MassBank−
西岡 孝明・・・・A-110
失敗から学ぶ?!より正確な表面分析のための技術の探求
堤 建一・・・・A-112
エネルギー値高精度校正の為のピークエネルギー値再考
田中 彰博・・・・A-113
接触面積を制御したnm 薄膜に非破壊で電気コンタクトするプローブの開発
吉武 道子・・・・A-117
XPS データベースWG 活動報告
薗林 豊・・・・A-118
SASJ XPS WG におけるメタデータ入力支援アプリの解説
吉川 英樹・・・・A-122
COMPRO12 の使用法（1）
吉原 一紘・・・・A-126
表面分析におけるちょっとした工夫の紹介
佐藤 美知子・・・・A-133