巻頭言
表面分析研究会からの贈り物井上 雅彦・・・・ 164
研究論文
Angular Distribution of Sputtered Particles in Shave-off Section Processing with SDTrimSPSo-Hee Kang, Kohei Matsumura, Takeki Azuma, Bunbunoshin Tomiyasu, and Masanori Owari・・・・ 165
Development of Secondary Ion Optical System to Achieve Three-Dimensional Shave-off SIMS
Kohei Matsumura, So-Hee Kang, Bunbunoshin Tomiyasu, and Masanori Owari・・・・ 172
技術報告
TOF-SIMSイメージングのための曲面観察用試料ホルダーの開発飯田 真一，宮山 卓也，田中 伊吹・・・・ 181
連載（エクステンディット・アブストラクト）初心者のための 実用表面分析講座「分析現場ですぐに役立つ表面分析のノウハウと知識」
表面分析概論柳内 克昭・・・・ 192
試料の取り扱いと試料前処理
荒木 祥和・・・・ 202
翻訳
English Translation of J. Surf. Anal. 24, 192-205 (2018), Auger Depth Profiling Analysis of HfO2/Si Specimen Using an Ultra Low Angle Incidence Ion BeamT. Ogiwara, T. Nagata, and H. Yoshikawa ・・・・209
談話室
日韓交流 The 13th Korean Symposium on Surface Analysis（KoSSA-13）参加報告牧野 久雄，松村 純宏・・・・221
掲示板
第65回幹事会議事録・・・・225
投稿規程
・・・・228
投稿票
・・・・233
Copyright Transfer Agreement
・・・・235
JSA定期購読申込用紙
・・・・238
JSAバックナンバー申込用紙
・・・・240
編集後記
・・・・242