2005年度実用表面分析講演会 講演者リスト

（ 2024 年 4 月 18 日 現在。 ）

ポスター講演 34 件

氏名 所属 題目 内容
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高木祐介、井田朋智、〇遠藤一央、後藤敬典 金沢大学理学部、名古屋工業大学 炭素同素体のXPSのC1s内殻電子結合エネルギー解析から得られるWD(仕事関数など)値
○井田 朋智、遠藤 一央、西川 清 金沢大学大学院自然科学研究科 ポリアセンの結合交替に関する理論的考察
森　行正 日本ガイシ株式会社　基盤材料研究所 帯電抑制Osコーティング法の薄膜化研究
森　行正 日本ガイシ株式会社　基盤材料研究所 イオン衝撃による炭酸リチウム表面の分解挙動のXPS評価
○飯田典子、飯田真一、眞田則明、星孝弘 アルバック・ファイ株式会社 高さ計測マイクロプローブを用いた凹凸試料凹部の測定法
〇山内 京子、小泉 あゆみ、表面汚染炭化水素プロジェクト 日本板硝子テクノリサーチ�蝓⊃係�電気工業�� XPSによる帯電補正方法の現状 -アンケート結果-
○當麻　肇、損傷プロジェクト 株式会社　日産アーク 有機材料のXPS測定時の損傷に関するラウンドロビンテスト
○小嶋佑治、倉橋和之、井上雅彦 摂南大学 低速Xe＋イオンビームを用いたGaAs/AlAs試料のスパッタオージェ深さ方向分析
○片山泰斗、天満真二、井上雅彦 摂南大学工学部電気電子工学科 He+およびXe+によるSiからのイオン誘起二次電子エネルギー分布の表面酸素濃度依存性
福島整、木村隆、田沼繁夫、田澤豊彦、塚本一徳 独立行政法人物質・材料研究機構、日本電子�� 電子線励起超軟Ｘ線分光分析装置による超軟Ｘ線スペクトルの観察
○福島　整、堀田卓秀、木村　隆、田沼繁夫、鈴木　昇 独立行政法人物質・材料研究機構、宇都宮大学 Siウェハーの初期酸化に関する観察
粟根　徹、　木村　隆 物質・材料研究機構、 分析ステーション 冷濃硫酸を用いた検鏡金属試料面の有機系付着物除去
金子　千鶴 (株)巴川製紙所　分析センター 表面分析におけるXPSの利用
○青柳　岳史、木村　隆、粟根　徹 分析ステーション、物質・材料研究機構 WDS-EPMAおよびEDS-SEM分析の検討
○中村　佳澄、齊田　義弘 昭和電工株式会社　分析物性センター 自己架橋型導電性高分子の反応解析
○篠塚 寛志、荒井 礼子、藤川 高志 千葉大学大学院自然科学研究科 光学ポテンシャルによる平均自由行程の評価
○大西 桂子、木村 隆、藤田 大介 物質・材料研究機構 多変量スペクトル解析手法によるＳｉＯ<sub>２</sub>超薄膜の電子線照射損傷過程の解析
荒木　祥和 株式会社日産アーク カーボン材の二次電子放出係数測定
○佐藤 美知子、堀 陽子、板倉 徹 富士通分析ラボ株式会社 深いところにある界面のAESによるデプスプロファイル測定方法
○塩沢　一成、山崎　徹 (株)三井化学分析センター 昇温脱離質量（ＴＤＳ−ＭＳ）分析法を用いた有機ならびに高分子材料からの脱離ガス分析
○安河内隆裕、井上雅彦、福島和則 摂南大学大学院　工学研究科　電気電子工学専攻 　高分解能深さ方向分析のためのＣ６０クラスターイオン源の試作
石川　信博、木村　隆、青柳岳史、古屋　一夫、杉崎　敬 物質・材料研究機構　 斜め研磨法を使った錫−亜鉛基合金ハンダの基盤との接合界面の詳細分析
吉原一紘 アルバック・ファイ COMPRO2005の紹介
〇福島　整、岸田　悟、田中博美、木村　隆 独立行政法人物質・材料研究機構、鳥取大学 Bi系高温超伝導ウィスカー側面のXPS測定
○岩瀬　鋭二良 旭化成株式会社　基盤技術研究所 ＸＰＳ-化学修飾法(ＯsＯ４付加法)による非共役二重結合の定量方法
鈴木峰晴 アルバック・ファイ メッシュ・レプリカ法によるシリコン酸化膜のスッパタ速度のラウンドロビン測定による検討
○鈴木峰晴、福島整、田沼繁夫 アルバック・ファイ、物材機構 ＸＰＳスペクトルの自動検出方法の検討

一般講演 1 件

氏名 所属 題目 内容
○木村隆，福島整，田沼繁夫，田澤豊彦，塚本一徳 物材機構，日本電子 ポリキャピラリーとグレーティング素子を用いた超軟X線分光器の開発