２０１５年度 実用表面分析講演会 講演者リスト

（ 2024 年 4 月 19 日 現在 ）

ポスター講演 12 件

氏名 所属 題目 内容
○山内 康生 矢崎総業株式会社 オージェ分析を用いたCuZn合金の定量分析の検討
◯荻原俊弥、吉川英樹 国立研究開発法人 物質・材料研究機構 Al-Cu接合試料のSEM像コントラストと二次電子スペクトルの関係について
○薗林　豊、吉川　英樹、高野　みどり、渡部　大介、田中　博美、陰地　宏、勝見　百合、木村　昌弘、吉原　一紘 京都大学、物質・材料研究機構、パナソニック株式会社、アルバック・ファイ株式会社、米子工業高等専門学校、名古屋大学、YKK株式会社、JX日鉱日石金属株式会社、シエンタオミクロン株式会社 XPSスペクトルデータベースWG進捗報告
Da Bo,吉川 英樹,田沼 繁夫 国立研究開発法人 物質•材料研究機構 超Mermin法による非弾性散乱平均自由行程の計算
○安野　聡、小金澤　智之 (公財)高輝度光科学研究センター 硬X線光電子分光法における光電子の有効減衰長の評価
○伊藤　博人、小林　大介、青柳　里果、TOF-SIMS WG コニカミノルタ株式会社、旭硝子株式会社、成蹊大学理工学部 TOF-SIMS WG活動報告 TOF-SIMSの質量軸較正法に関するラウンドロビンテスト（RRT13）報告
○田中 彰博、高野 みどり @ESCA 全方位イオンビーム形状測定法の開発
○西田 真輔、岩瀬 鋭二良、大村 和世、景山 大輝、島尾 昌幸、速水 弘子、安野 聡、岡島 康雄 古河電気工業(株)、旭化成(株)、東北大学、日本板硝子(株)、菱電化成(株)、日鉄住金テクノロジー(株)、(財)高輝度光科学研究センター、奈良先端科学技術大学院大学 XPS定量グループの活動報告 - Wagnerの相対感度係数を支える経験知の議論-
○飯田真一、宮山卓也 アルバック・ファイ株式会社分析室 FIB-TOF-SIMSによる有機・無機材料の分析
〇杉山　信之、吉田　陽子、杉本　貴紀、中尾　俊章、小林　弘明、村井　崇章 あいち産業科学技術総合センター めっき腐食生成物のXAFSによる評価
○佐藤　貴弥, 新美　大伸, 菊地　真樹, 藤井　麻樹子, 瀬木　利夫, 松尾　二郎 日本電子（株）、京都大学 表面分析のためのレーザー脱離イオン化イメージング質量分析の検討
◯荻原俊弥、吉川英樹 国立研究開発法人 物質•材料研究機構 極低角度入射ビームオージェ深さ方向分析法の実用化に関する検討

一般講演 0 件

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