2018年度 実用表面分析講演会 講演者リスト

( 2018 年 9 月 19 日 現在 )

ポスター講演 17 件

氏名 所属 題目 内容
〇篠塚 寛志、吉川 英樹、村上 諒、仲村 和貴、田中 博美、吉原 一紘 物質・材料研究機構、米子工業高等専門学校、シエンタオミクロン株式会社 XPSスペクトル解析における情報量基準を用いたモデル選択
〇宇津木 里香,衣笠 元気,永岡 浩充,盒 はるな,堤 建一,小野寺 浩 日本電子(株) ED-XRFの一次フィルタを用いた軽合金材料の微量分析
〇仲村 和貴、村上 諒、田中 博美、篠塚 寛志、吉川 英樹、吉原 一紘 米子高専、物質・材料研究機構、シエンタオミクロン 参照スペクトル照合型動的Shirley法によるXPSスペクトル解析
〇村上 諒、仲村 和貴、田中 博美、篠塚 寛志、吉川 英樹、吉原 一紘 米子高専、物質材料研究機構、シエンタオミクロン株式会社 XPSスペクトル解析のハイスループット化を目指したActive Shirley法の改良
堤 建一 日本電子 定量のための実スペクトルにおける背面散乱電子量の補正の検討
○陰地 宏,村井 崇章,柴田 佳孝,田渕 雅夫,渡辺 義夫,竹田 美和 名古屋大学シンクロトロン光研究センター,科学技術交流財団あいちシンクロトロン光センター,あいち産業科学技術総合センター AichiSRテンダーX線XAFS・XPSビームラインBL6N1の現状報告:二結晶分光器更新によるビームライン性能の向上
〇武田 樹、牧野久雄 システム工学群、高知工科大学 実験室硬X線光電子分光装置によるAl添加ZnO薄膜のドーパント化学状態評価
〇島 政英、堤 建一、田中 章泰、小野寺 浩、種村 眞幸 日本電子(株)、名古屋工業大学 銅酸化物に対するオージェパラメーターを用いた化学状態分析
○鈴木 匠、陈 孙维、尾張 真則 生産技術研究所、東京大学 電界イオン顕微鏡を用いた触媒表面反応の観察
我妻 佑一、石倉 航、山㟁 崇之、○青柳 里果 物質計測・イメージング研究室、成蹊大学 生体組織TOF-SIMSデータの多変量解析による分類
溝道 桂介、 石倉 航、 山㟁 崇之、 志賀 基紀、 〇青柳 里果 成蹊大学理工学部、岐阜大学 ペプチドと脂質試料TOF-SIMSデータのLASSOによる解析
○薗林豊、高野みどり、吉川英樹 国立大学法人京都大学、パナソニック株式会社AIS社、国立研究開発法人物質・材料研究機構 XPSデータベースWG活動報告
○飯田真一、宮山卓也、田中伊吹 アルバック・ファイ株式会社 広立体角観察を可能にするTOF-SIMS用試料ホルダーの開発と実用化
チェン ソンイ 生産技術研究所、東京大学 The interaction of O2 and residual H on Pt surface: studies by field ion microscopy and in-situ surface atom probe
〇松村 康平、カン・ソヒ、冨安 文武乃進、尾張 真則 東京大学 生産技術研究所 三次元shave-off SIMSの実現に向けた二次イオン光学系の開発
姜少熙 生産技術研究所, 東京大学 Angular distribution of sputtered particles in shave-off section processing
〇中西 康次(*)、森田 善幸(**)、田中 覚久(**)、木内 久雄(**) *立命館大学、**京都大学 蛍光収量、全電子収量同時検出硬X線XAFS測定による動作中全固体電池深さ方向の充放電反応分布解析


一般講演 3 件

氏名 所属 題目 内容
田中彰博 東京都市大学ナノテクノロジー研究推進センター XPSのカーブフィッティングにおけるバックグラウンド処理と結果のカイ自乗値を用いた計算法の比較
田中彰博 東京都市大学ナノテクノロジー研究推進センター フェルミ端測定で得られる装置パラメータ
◯青柳里果,1  石倉航,1 志賀元紀2 1成蹊大学理工学部, 2岐阜大学工学部 ペプチドTOF-SIMSスペクトルのランダムフォレストによる解析