2018年度 実用表面分析講演会 プログラム(2018.10.15-16)
Symposium on Practical Surface Analysis 2018 (PSA-18)

開催日時:2018年10月15日(月) 13:30 ~ 16日(火) 16:30
開催場所:プラサヴェルデ(ふじのくに千本松フォーラム) 401大会議室

第1日目: 10月15日(月)

  • 13:00 ~ 13:30参加受付
  • 13:30 ~ 13:35開会宣言
  • ポスターショートプレゼンテーション (402会議室)
    • 13:35 ~ 15:00全体(講演3分、討論2分)
      発表者
    • 15:00 ~ 15:15- 休憩及び準備 -
  • ポスターセッション (403小会議室) ... ポスター一覧更新
    • 15:15 ~ 15:55前半(奇数)
    • 15:55 ~ 16:35後半(偶数)
    • 16:35 ~ 17:00全体・Powell賞投票
  • 17:00 ~ 17:30移動、チェックイン
  • 17:30 ~ 19:30懇親会・Powell賞発表
  • 19:30 ~ 20:30移動,休憩(お風呂など)
  • ナイトセッション

第2日目: 10月16日(火) (402会議室)

  • 9:30 ~ 10:00参加受付
  • テーマ講演(XRF)-1-
    • 10:00 ~ 10:40「蛍光X線での膜厚・組成分析の原理および分析例(仮)」
      高橋 学人(株式会社 リガク)
    • 10:40 ~ 11:20表面近傍の蛍光X線元素イメージング更新
      辻 幸一(大阪市立大学大学院)
  • 11:20 ~ 12:50- 昼食 -(研究会では準備いたしませんので各自でお取りください)
  • 招待講演
    • 12:50 ~ 13:30「窒化物半導体材料のアトムローブ解析(仮)」
      蟹谷 裕也,冨谷 茂隆(ソニー株式会社)
  • テーマ講演(XRF)-2-
    • 13:30 ~ 14:10「リファレンスフリー蛍光X線分析法における信頼性向上(仮)」
      桜井 健次(物質材料研究機構)
    • 14:10 ~ 14:50「エネルギー分散型微小部蛍光X線分析装置の紹介と応用例(仮)」
      坂東 篤(株式会社 堀場製作所)
  • 14:50 ~ 15:00- 休憩 -
  • 一般講演
    • 15:00 ~ 15:30ペプチドTOF-SIMSスペクトルのランダムフォレストによる解析
      青柳里果,1  石倉航,1 志賀元紀2)
      (1成蹊大学理工学部, 2岐阜大学工学部)
    • 15:30 ~ 16:00調整中
  • 16:00 ~ 16:05連絡事項
    伊藤
  • 16:05 ~ 16:10閉会挨拶
    永富

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