２０２０年度 実用表面分析講演会 講演者リスト

（ 2024 年 4 月 20 日 現在 ）

ポスター講演 11 件

氏名 所属 題目 内容
〇武田 樹、秦睦人、牧野 久雄 高知工科大学大学院 硬X線光電子分光法によるGa添加ZnO膜上のAl薄膜の評価
吉田 健、〇坂本 哲夫、森田 真人、趙 越、大森 柚花、奥村 丈夫、河合 利秀、富田 英夫、Volker Sonnenschein、佐藤 志彦、若井田 育夫、宮部 昌文 工学院大学、（株）日本中性子光学、名古屋大学、日本原子力研究開発機構 R-SNMS分析のための共鳴レーザースペクトル線幅の最適化
田村和弥、白須健太、梅村隆之、森田真人、長瀬久美子、濱中和嘉子、 垣花昌俊、大平達夫、池田徳彦、○坂本哲夫 工学院大学、東京医科大学 TOF-SIMSによる単一細胞分析のための急速凍結法の開発
Nikki Gerrard, Sarah Coultas , 〇渡邉俊祐, Thierry Conard �蠹臘点什扈蝓（�析計測事業部　GADC Reconstructed Concentration Depth Profiles using Angle-Resolved XPS
渡會 健太、川杉 昂大 、Linchun He、森田 真人、○坂本 哲夫 工学院大学、シンガポール国立大学 FIB-TOF-SIMSを用いた固体電解質粒子の劣化メカニズムの解明
○田村　綾斗 静岡大学 Bドープダイヤモンド電極における表面終端構造と電気化学的特性の関係
○山下良之、Indari Efi Dwi、蓮沼 隆 （国）物質・材料研究機構， 九州大学、筑波大学 SiO2/4H-SiC界面における界面準位と界面構造の相関
〇西田真輔、大友晋哉、佐々木宏和 古河電気工業株式会社 実験室系HAXPESにおけるオージェパラメーターを用いたAgの化学状態分析
○長岡 克己、大見 俊一郎 物質・材料研究機構、東京工業大学 STMを用いた実用薄膜の仕事関数マッピングと局所電子状態測定
〇寺島　雅弘、宮山卓也、間宮一敏 アルバック・ファイ株式会社、分析室 In-situ UPS/LEIPSおよびREELSによるバンドギャップ計測
原田善之、角谷正友、篠塚�郢屐�登坂弘明、永田賢二、松波成行、田沼繁夫、吉川英樹、村上諒、庄野逸 物質・材料研究機構、電気通信大学 BIC自動ピークフィッティング技術を用いたXPSデータセットのハイスループット解析手法

一般講演 1 件

氏名 所属 題目 内容
〇森田 真人、吉田 健、大森 柚花、坂本 哲夫 工学院大学 先進工学部 応用物理学科 共鳴イオン化SNMS法による固体局所の同位体比分析