表面分析士

表面分析士について
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表面分析研究会では、2002年4月から、表面分析技術の維持・向上に資するとともに技術の発展・標準化に寄与することを目的に、実用的な表面分析実務を行う能力のある方を 「表面分析士(英語名称:Surface Analyst Accredited)」として認定することとしました(「表面分析士」への名称変更について )。
認定の範囲は、次の5分野です。

  • 1.X線光電子分光法(XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy)
  • 2.オージェ電子分光法(AES: Auger Electron Spectroscopy)
  • 3.二次イオン質量分析法(SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry)
  • 【D-SIMS: Dynamic SIMS、TOF-SIMS: Time of Flight SIMS】
  • 4.電子線マイクロアナリシス(EPMA: Electron Probe Microanalysis)
  • 【WDX: Wavelength Dispersive X-ray Spectrometry(波長分散型分光法)、
  •  EDX: Energy Dispersive X-ray Spectrometry(エネルギー分散型分光法)】
  • 5.走査プローブ顕微鏡法(SPM: Scanning Probe Microscopy)
  • 【AFM: Atomic Force Microscopy(原子間力顕微鏡)、
  •  STM: Scanning Tunneling Microscopy(走査トンネル顕微鏡)、その他】

「実務能力」の認定ですので、試験を行うことはせず、力量を示す資料を添付資料として提出していただき、書類で審査させていただきます。提出いただく添付資料としては、論文、技術報告、ラウンドロビンテスト参加報告、等、申請される方の力量が分かるものであれば、何でもけっこうです。ただし、平成28年2月の「表面分析士認定規定」の見直しにより、今まで以上に当研究会への活発な貢献も評価に加えることとしました。具体的には、当研究会主催のISOセミナーへの出席、研究会等での発表、当研究会機関紙であるJournal of Surface Analysisへの記事投稿を必須としました。また、ラウンドロビンテストについては、単なる測定データの提供は評価対象とはいたしませんのでご注意ください。

なお、力量を示す適当な資料がない場合も、どなたかの推薦状でも審査対象とさせていただきます。ただし、書面審査で申請者の「能力」が判断できるような内容を記述してください。

また、本認定制度は標準化に寄与することを目的としていることから、「標準化活動」に関する活動も評価対象といたします。申請書にある当該欄へは、研究会主催のISOセミナーへの参加、講師実績、当研究会での標準化活動への寄与、ISOやJIS出版に関わる活動などをアピールしてください。


認定を希望される方は、表面分析士認定申請書(下記)に必要事項を記入していただき、添付資料とともに下記の標準化活動部会担当まで電子メールにて提出してください。申請書はWordファイルで、付属資料はWordあるいはPDFファイルでご提出ください。申請書を受け取り後、担当より申請費用の支払い方法について連絡差し上げます。申請費用の入金確認後、審査開始となりますのでご注意ください。なお、本申請に関しては、原則として見積・納品・請求書を発行いたしませんので、あらかじめご了解ください。認定 委員会での審査結果は、委員会開催後、各申請者にご連絡いたします。

表面分析士認定申請書
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認定者と認定範囲

2012年8月29日時点での認定者と認定範囲は下記のとおりです。(氏名50音順)

氏名所属認定範囲
阿部 芳巳シーエーシーズ株式会社 AES SIMS
井上 雅彦摂南大学 AES SIMS
荻原 俊弥NTTアドバンステクノロジ株式会社 AES
河合 潤京都大学 XPS
川畑 敬志広島工業大学 XPS
木村 隆物質・材料研究機構 AES
児島 淳子株式会社 松下テクノリサーチ XPS AES
櫻田 委大鋼管計測株式会社 XPS AES
佐藤 美知子富士通分析ラボ株式会社 XPS AES
志智 雄之株式会社 日産アーク XPS AES SIMS
城 昌利独立行政法人 産業技術総合研究所 XPS
鈴木 昇宇都宮大学 XPS
鈴木 峰晴NTTアドバンステクノロジ株式会社 XPS AES
高野 明雄NTTアドバンステクノロジ株式会社 SIMS
高野 みどり株式会社 松下テクノリサーチ XPS
田中 武広島工業大学 XPS
當麻 肇株式会社 日産アーク XPS
富田 充裕株式会社 東芝 SIMS
中村 誠株式会社 富士通研究所 XPS AES
西尾 満章物質・材料研究機構 EPMA   
橋本 哲鋼管計測株式会社 XPS AES SIMS
東 洋渡王子製紙株式会社 XPS SIMS
降屋 幹男神奈川県産業技術総合研究所 AES
丸山 達哉株式会社 富士ゼロックス XPS AES
三浦 薫株式会社 トクヤマ XPS
茂木 カデナNTTアドバンステクノロジ株式会社 AES
柳内 克昭TDK株式会社 XPS AES

認定申請書送付先

表面分析研究会 標準化活動部会 【表面分析士認定申請】
〒108-0074 東京都港区高輪3-6-7
e-mail:
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