表面分析技術士

表面分析技術士について

表面分析研究会では、2002年4月から、表面分析技術の維持・向上に資するとともに技術の発展・標準化に寄与することを目的に、実用的な表面分析実務を行う能力のある者を「表面分析技術士(英語名称:Surface Analyst Accredited)」として認定することとしました。
認定の範囲は、次の5分野です。

  • 1.X線光電子分光法(XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy)
  • 2.オージェ電子分光法(AES: Auger Electron Spectroscopy)
  • 3.二次イオン質量分析法(SIMS: Secondary Ion Mass Spectrometry)
  • 4.電子線マイクロアナライザ(EPMA: Electron Probe Micro Analyzer)
  • 5.走査プローブ顕微鏡法(SPM: Scanning Probe Microscopy)

「実務能力」の認定ですので、試験を行うことはせず、力量を示す資料を提出していただき、書類審査とさせていただきます。提出資料は、論文、技術報告、ラウンドロビン参加報告、等、申請される方の力量が分かるもので有れば、何でもけっこうです。適当な資料がなくても、どなたかの推薦状でも審査対象とさせていただきます。ただし、書面審査で申請者の「能力」が判断できるような内容を記述してください。初回の認定作業を終えて、認定委員会から「標準化活動」を明確にするようにとの諮問がありました。標準化活動部会では、当研究会の標準化セミナーへの参加、講師実績、当研究会での標準化活動への寄与を記述できるように、申請書を改訂しました。

認定を希望される方は、表面分析技術士認定申請書(下記)に必要事項を記入してご捺印いただき、付属資料とともに下記の標準化活動部会担当まで、送付してください。スキャンファイル(PDF)を電子メールで送付いただいても結構です。資料送付前に電子メールで連絡いただければ、申請費用の支払い方法をご連絡します。申請費用の入金確認後、審査開始となります。なお、見積・納品・請求書を発行いたしませんので、あらかじめご了解ください。認定委員会での審査結果は、委員会開催後、各申請者にご連絡いたします。

表面分析技術士認定申請書

認定者と認定範囲

2017年6月1日時点での認定者と認定範囲は下記のとおりです。(氏名50音順)

氏名所属認定範囲
阿部 芳巳シーエーシーズ株式会社 AES SIMS
伊藤 博人コニカミノルタ株式会社 TOF−SIMS
井上 雅彦摂南大学 AES SIMS
荻原 俊弥NTTアドバンステクノロジ株式会社 AES
河合 潤京都大学 XPS
川畑 敬志広島工業大学 XPS
木村 隆物質・材料研究機構 AES
児島 淳子株式会社 松下テクノリサーチ XPS AES
櫻田 委大鋼管計測株式会社 XPS AES
佐藤 美知子富士通分析ラボ株式会社 XPS AES
眞田 則明アルバック・ファイ株式会社 XPS AES TOF−SIMS
志智 雄之株式会社 日産アーク XPS AES SIMS
城 昌利独立行政法人 産業技術総合研究所 XPS
鈴木 昇宇都宮大学 XPS
鈴木 峰晴NTTアドバンステクノロジ株式会社 XPS AES
高野 明雄NTTアドバンステクノロジ株式会社 SIMS
高野 みどり株式会社 松下テクノリサーチ XPS
田中 武広島工業大学 XPS
堤 建一日本電子株式会社 AES
當麻 肇株式会社 日産アーク XPS
富田 充裕株式会社 東芝 SIMS
永富 隆清旭化成株式会社 XPS AES D−SIMS
TOF−SIMS
EPMA−WDX
EPMA−EDX
中村 誠株式会社 富士通研究所 XPS AES
西尾 満章物質・材料研究機構 EPMA   
橋本 哲鋼管計測株式会社 XPS AES SIMS
東 洋渡王子製紙株式会社 XPS SIMS
降屋 幹男神奈川県産業技術総合研究所 AES
丸山 達哉株式会社 富士ゼロックス XPS AES
三浦 薫株式会社 トクヤマ XPS
茂木 カデナNTTアドバンステクノロジ株式会社 AES
柳内 克昭TDK株式会社 XPS AES

認定申請書送付先

表面分析研究会 標準化活動部会 【表面分析技術士認定申請】
〒108-0074 東京都港区高輪3-6-7
e-mail:
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