「表面分析技術士」資格認定のお知らせと認定者リスト

 

20081211

 

 2002年4月から、表面分析研究会では、表面分析技術の維持・向上に資するとともに技術の発展・標準化に寄与することを目的に、実用的な表面分析実務を行う能力のある者を「表面分析技術士(英語名称:Surface Analyst Accredited)」として認定することとしました。認定の範囲は、次の3分野です。

 

1.X線光電子分光法(XPS: x-ray photoelectron spectroscopy)

2.オージェ電子分光法(AES: Auger electron spectroscopy)

3.二次イオン質量分析法(SIMS: secondary ion mass spectrometry)

 

 「実務能力」の認定ですので、試験を行うことはせず、力量を示す資料を提出していただき、書類審査とさせていただきます。提出資料は、論文、技術報告、ラウンドロビン参加報告、等、申請される方の力量が分かるもので有れば、何でもけっこうです。適当な資料がなくても、どなたかの推薦状でも審査対象とさせていただきます。ただし、書面審査で申請者の「能力」が判断できるような内容を記述してください。初回の認定作業を終えて、認定委員会から「標準化活動」を明確にするようにとの諮問がありました。標準化活動部会では、当研究会の標準化セミナーへの参加、講師実績、当研究会での標準化活動への寄与を記述できるように、申請書を改訂しました。

 

 認定を希望される方は、表面分析技術士認定申請書(WORD FILE / PDF FILE)に必要事項を記入して、付属資料とともに下記の標準化活動部会担当まで、送付してください。資料送付前に電子メール、電話等で連絡いただければ、申請費用の支払い方法をご連絡します。認定委員会での審査結果は、委員会開催後、各申請者にご連絡いたします。

 

 なお、2008年10月14日時点での認定者と認定範囲は下記のとおりです。

氏  名

所   属

認 定 範 囲

阿部 芳巳

シーエーシーズ株式会社

AES

SIMS

 

井上 雅彦

摂南大学

AES

SIMS

 

荻原 俊弥

NTTアドバンステクノロジ株式会社

AES

 

 

河合 潤

京都大学

XPS

 

 

川畑 敬志

広島工業大学

XPS

 

 

木村 隆

物質・材料研究機構

AES

 

 

児島 淳子

株式会社 松下テクノリサーチ

XPS

AES

 

櫻田 委大

鋼管計測株式会社

XPS

AES

 

佐藤 美知子

富士通分析ラボ株式会社

XPS

AES

 

志智 雄之

株式会社 日産アーク

XPS

AES

SIMS

城 昌利

独立行政法人 産業技術総合研究所

XPS

 

 

鈴木 昇

宇都宮大学

XPS

 

 

鈴木 峰晴

NTTアドバンステクノロジ株式会社

XPS

AES

 

高野 明雄

NTTアドバンステクノロジ株式会社

SIMS

 

 

高野 みどり

株式会社 松下テクノリサーチ

XPS

 

 

田中 武

広島工業大学

XPS

 

 

當麻 肇

株式会社 日産アーク

XPS

 

 

富田 充裕

株式会社 東芝

SIMS

 

中村 誠

株式会社 富士通研究所

XPS

AES

 

橋本 哲

鋼管計測株式会社

XPS

AES

SIMS

東 洋渡

王子製紙株式会社

XPS

SIMS

降屋 幹男

神奈川県産業技術総合研究所

AES

 

丸山 達哉

株式会社 富士ゼロックス

XPS

AES

 

三浦 薫

株式会社 トクヤマ

XPS

 

 

茂木 カデナ

NTTアドバンステクノロジ株式会社

AES

 

 

柳内 克昭

TDK株式会社

XPS

AES

 

(氏名は50音順)

 

 

 認定申請書送付先

  〒108-0074

  東京都港区高輪3-6-7

  表面分析研究会 標準化活動部会 【表面分析技術士認定申請】

  鈴木 峰晴

  (問い合わせ先)

  アルバック・ファイ(株)市場開発部 気付 鈴木 峰晴

  standard-material@sasj.jp

  TEL: 0467-85-6522  FAX: 0467-85-4411