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| 03/19 (TUE) |
International Symposium |
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New trends and possibilities of Surface Analysis. - Towards the analysis of nano-structured materials - |
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| 場所：マグノリア（虎ノ門パストラル新館５F） |
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| Item |
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Title |
Speaker |
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Chairperson |
Time |
Start |
End |
| Registration |
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30 |
9:00 |
9:30 |
| Opening remark |
(1) |
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Dr. Kazuhiro Yoshihara |
NIMS (Japan) |
Dr. Sigeo Tanuma (NIMS) |
5 |
9:30 |
9:35 |
| AM session 1 |
(2) |
AES and XPS analysis of nanowear and thin films |
Prof. John Grant |
University of Dayton (USA) |
Dr. Kazuhiro Yoshihara (NIMS) |
45 |
9:35 |
10:20 |
| Coffee break |
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10 |
10:20 |
10:30 |
| AM session 2 |
(3) |
Possible Application of Appearance Potential Spectroscopy (APS) to Studies
of Empty Electronic States, Short Range Ordering, and Work Function for
Nano-Material Surfaces |
Prof. Yasuo Fukuda |
Shizuoka University (Japan) |
Prof. Shigeru Suzuki (Tohoku Univ.) |
45 |
10:30 |
11:15 |
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(4) |
Absolute Electron Energy Analyzer |
Prof. Keisuke Goto |
Nagoya Institute of Technology (Japan) |
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45 |
11:15 |
12:00 |
| Lunch |
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90 |
12:00 |
13:30 |
| PM session 1 |
(5) |
Determination of the differential surface excitation parameter from experimental
REELS data |
Prof. Yung-Fu Chen |
National Chiao Tung University (Taiwan) |
Dr. Masatoshi Jo (AIST) |
45 |
13:30 |
14:15 |
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(6) |
Information on local electronic structure at surfaces and interfaces from
analysis and interpretation of electron spectra |
Dr. Laszlo Kover |
Institute of Nuclear Research of the Hungarian Academy of Sciences (HUN) |
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45 |
14:15 |
15:00 |
| Coffee break |
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15 |
15:00 |
15:15 |
| PM session 2 |
(7) |
XPS for inhomogeneous samples: Quantitative chemical information from nanoscale
layers |
Dr. Peter Cumpson |
National Physical Laboratory (UK) |
Prof. Jun Kawai (Kyoto Univ.) |
45 |
15:15 |
16:00 |
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(8) |
Surface Analysis of Compound Semiconductor Nano-structures by AFM and STM |
Prof. Takashi Fukui |
Hokkaido University (Japan) |
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45 |
16:00 |
16:45 |
| Closing remark |
(9) |
|
Dr. Shigeo Tanuma |
NIMS (Japan) |
- |
5 |
16:45 |
16:50 |
| Banquet 場所：おもと（虎ノ門パストラル新館３F） |
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Dr. M. Suzuki(NTT-AT)/Dr. S. Hashimoto (KKS) |
120 |
17:30 |
19:30 |
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| 3/20（水） |
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| 第１７会研究会 |
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表面分析をめぐる国際標準化の動向ーISOの現状、VAMASの動きー |
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| 場所：しらかば（虎ノ門パストラル本館８F） |
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| 項目 |
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講演タイトル |
講師 |
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司会 |
時間 |
開始 |
終了 |
| 登録 |
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15 |
9:00 |
9:15 |
| オープニング |
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|
田沼 繁夫 |
物質・材料研究機構 |
橋本 |
10 |
9:15 |
9:25 |
| １．ISOとVAMASの現状：概論 |
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(1) |
表面分析の国際標準化の現状- ISOとVAMAS - |
吉原 一紘 |
物質・材料研究機構 |
講演委員 |
20 |
9:25 |
9:45 |
| ２．ISO TC201 表面化学分析の現状とその動向：各論 |
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(2) |
用語、一般的手順、データ管理及び取り扱い |
古川 洋一郎 |
電気化学工業（株） |
講演委員 |
25 |
9:45 |
10:10 |
| |
(3) |
深さ方向分析 |
梶原 和夫 |
SONY（株） |
|
25 |
10:10 |
10:35 |
| 休憩 |
|
|
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|
10 |
10:35 |
10:45 |
| |
(4) |
オージェ電子分光法、Ｘ線光電子分光法 |
田沼 繁夫 |
NIMS |
講演委員 |
25 |
10:45 |
11:10 |
| |
(5) |
二次イオン質量分析法 |
林 俊一 |
新日本製鐵（株） |
|
25 |
11:10 |
11:35 |
| 昼食 |
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|
75 |
11:35 |
12:50 |
| |
(6) |
GD-OES（グロー放電発光分光分析法）の国際標準化の背景・動向 |
鈴木 茂 |
東北大学 |
講演委員 |
25 |
12:50 |
13:15 |
| |
(7) |
全反射蛍光X線分析ー実験室から標準化までー |
合志 陽一 |
国立環境研 |
|
25 |
13:15 |
13:40 |
| |
|
総合討論 |
|
|
橋本 |
30 |
13:40 |
14:10 |
| ３．話題提供 |
(1) |
ISOにおけるAESのエネルギー軸校正法 |
橋本 哲 |
鋼管計測（株） |
講演委員 |
15 |
14:10 |
14:25 |
| |
(2) |
感度係数法による定量分析法- マトリックス補正法を越えるか− |
田沼 繁夫 |
物質・材料研究機構 |
|
15 |
14:25 |
14:40 |
| 休憩 |
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|
|
|
|
10 |
14:40 |
14:50 |
| |
(3) |
Activity in SASJ toward Standardization |
鈴木 峰晴 |
NTT-AT（株） |
講演委員 |
15 |
14:50 |
15:05 |
| |
(4) |
AESによるSiO2電子線試料損傷評価 |
木村 隆 |
物質・材料研究機構 |
|
15 |
15:05 |
15:20 |
| ４．WG状況報告 |
|
SERD, AES強度、透過関数など |
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|
60 |
15:20 |
16:20 |
| ５．幹事会からの案内、その他 |
|
PSA01報告など |
鈴木峰晴 etc |
|
- |
20 |
16:20 |
16:40 |
| クロージング |
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|
橋本 哲 |
鋼管計測（株） |
- |
5 |
16:40 |
16:45 |
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