第37回表面分析研究会プログラム(2011.6.7 現在)

開催日時:2011年 6月 20日(月) 13:30 ~ 21日(火) 15:00(予定)
開催場所:島津製作所 関西支社 マルチホール

第1日目: 6 月 20 日(月)


13:00 ~ 13:30受付
13:30 ~ 13:40開会挨拶吉川英樹((独)物質・材料研究機構)
一般講演
13:40 ~ 14:10「ToF-SIMS国際標準化について」本間芳和(東京理科大学)
14:10 ~ 14:40「走査型XPSによる低損傷測定条件の検討」井上りさよ(アルバック・ファイ(株))
ワーキンググループ
14:40 ~ 17:00ワーキンググループ討議(詳細はこちら


第2日目: 6 月 21 日(火)


09:15 ~ 09:30受付
一般講演
9:30 ~ 9:45「国際計量研究連絡委員会・物質量標準分科会の
報告」
田沼繁夫((独)物質・材料研究機構)
9:45 ~ 10:15「軟X線放射光光電子分光法を用いたSiO2中の光電子の見かけの有効減衰長測定とその問題点」神農宗徹
((独)日本原子力研究開発機構)
10:15 ~ 10:30休憩
10:30 ~ 11:10「10 eV - 300 eVにおける弾性散乱電子強度における
実測値とモンテカルロ法による計算値の比較」
田沼繁夫, *後藤敬典,
*山内幸彦, 上田隆一,
篠塚寛志, 吉川英樹
((独)物質・材料研究機構, *産総研)
11:10 ~ 11:40「帯電水滴エッチングによるTiO2の深さ方向分析」境悠治 (山梨大学)
11:40 ~ 13:20昼食
ワーキンググループ
13:20 ~ 14:50ワーキンググループ討議及び報告
連絡・挨拶、閉会挨拶
14:50 ~ 14:55連絡・挨拶
14:55 ~ 15:00閉会挨拶柳内克昭(TDK(株))
敬称略
以上

変更がありましたら、そのつどご案内いたします。


Return to Top Page