2025年度 実用表面分析講演会 プログラム（2025.11.17-18）
Symposium on Practical Surface Analysis 2025　(PSA-25)

開催日時：2025年11月17日(月) 13:30 ～ 18日(火) 16:10
開催場所：現地会場(プラザヴェルデ沼津)＋オンライン会場

第1日目： 11月17日(月)

  • 13:00 ～ 13:30参加受付
  • 13:30 ～ 13:35開会挨拶
    伊藤
  • 13:35 ～ 13:40オンライン講演会における注意事項
    伊藤
  • ポスターショートプレゼンテーション
    • 13:40 ～ 14:30ポスター番号順に発表
    • 14:30 ～ 14:45- 休憩及び準備 -
  • ポスターセッションポスター一覧
    • 14:45 ～ 15:30前半（奇数）
    • 15:30 ～ 16:15後半（偶数）
    • 16:15 ～ 16:45全体・Powell賞投票
  • 16:45 ～ 18:00移動
  • 18:00 ～ 20:00懇親会・Powell賞発表
  • 20:00 ～ 21:00- 休憩及び準備 -
  • 21:00 ～ 22:00ナイトセッション

第2日目： 11月18日(火)

  • 9:30 ～ 10:00参加受付（必要に応じて）
  • テーマ講演 「複合分析」
    • 10:00 ～ 10:40XPSを中心とした複合分析アプローチとその応用事例（仮）
      橋本 真希（アルバックファイ（株））
  • テーマ講演 「SPM技術」
    • 10:40 ～ 11:20原子間力顕微鏡（AFM）によるナノ領域の物性評価技術
      後藤 千絵（パーク・システムズ・ジャパン 株式会社　技術部）
  • 11:20 ～ 12:40- 昼食 -（研究会では準備いたしませんので各自でお取りください）
  • テーマ講演 「SPM技術」
    • 12:40 ～ 13:20走査型非線形誘電率顕微鏡に基づく半導体物性のナノスケール評価手法の開発（仮）
      山末 耕平（東北大学 電気通信研究所）
    • 13:20 ～ 14:00接着接合界面における局所機械物性評価
      藤野 渚彩（株式会社日産アーク　現象解析室）
    • 14:00 ～ 14:10休憩
    • 14:10 ～ 14:50原子間力顕微鏡による高分子ナノ力学物性評価とその標準化動向
      中島 健(東京科学大学　物質理工学院)
    • 14:50 ～ 15:30走査型プローブ顕微鏡ISO国際標準化の現状とナノ粗さの絶対値測定の取り組み
      井藤 浩志（産業技術総合研究所）
    • 15:30 ～ 15:40休憩
  • PSA-25　口頭講演
    • 15:40 ～ 16:00NIMSの標準化活動について
      大西 桂子 (物質材料研究機構)
    • 16:00 ～ 16:20教師あり学習法によるSIMSデータに基づく定量分析
      青柳 里果 (成蹊大学　理工学部)
  • 16:20 ～ 16:25連絡事項
    伊藤
  • 16:25 ～ 16:30閉会挨拶
    牧野

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